Complaint
| Prozess | Industrie nach Substanz | Branche nach Anwendbarkeit | |
| Doppelt Platte Läppen Und Polieren | Metall Und Legierung Keramik Oxid Hartmetall Glas Kunststoff Naturstein | Abdichtung | Ventil und Dichtring (Flüssigkeit, Öl, Gas) |
| Halbleiter | LED-Substrat (Al2O3, Si, SiC) Wafer-Substrat (Si, SiC, Ge, Ge-Si, GaN, GaAs, GaAsAl, GaAsP, InSb, ZnO, AlN) | ||
| Kunststoff | PE, E/VAC, SBS, SBR, NBR, SR, BR, PR | ||
| Optik (flach) | Optische Linse, optischer Reflektor, Szintillatorwürfel, Holographisches Glas, HUD-Glas, Glasscheibe | ||
| Edelstein | jade, Saphir, Achat, etc. | ||
| Andere | Graphitblock, Gauge Block, Mikrometerlehre, Diamant, Reibplatte, Messer, Lager, Metallteile und jede andere präzise Hardware. | ||
| *HINWEIS: Durch Läppen kann nur eine geringe Werkstückdicke entfernt werden. Wenn Ultra-Ausdünnung (≤100μm), dünner Maschine benötigt werden. | |||
| Standardspezifikation | |||||
| Maschinenmodell | FD6B | FD9B | FD13-6B | ||
| Unterer Plattendurchmesser | Φ386 mm / 15 Zoll | Φ640 mm / 25 Zoll | Φ973 mm / 38 Zoll | ||
| Durchmesser Der Oberen Platte | Φ386 mm / 15 Zoll | Φ640 mm / 25 Zoll | Φ973 mm / 38 Zoll | ||
| Parameter Für Sternrad | DP 12, Z=66, A=20 GRAD | DP 12, Z=108, A=20 GRAD | DP 19,3, Z=152, A=20 GRAD | ||
| Parameter Für Konditionierungsring | DP 12, Z=66, A=20 GRAD | DP 12, Z=108, A=20 GRAD | DP 19,3, Z=152, A=20 GRAD | ||
| Max. Werkstückdurchmesser | Φ120 mm | Φ180 mm | Φ290 mm | ||
| Prozessdicke | 0,2mm≤N≤20mm | 0,2mm≤N≤25mm | 0,2mm≤N≤30mm | ||
| Nummer der Station | 3≤N≤5 | 3≤N≤5 | 3≤N≤5 | ||
| Drehgeschwindigkeit Der Platte | 0-60 U/min | 0-60 U/min | 0-50 U/min | ||
| Gesamtgewicht | 600 kg | 2000 kg | 3200 kg | ||
| Gesamtfläche | 700×950 mm | 1350 x 960 mm | 1700×1380 mm | ||
| Integrierte Optionale Kits | |||||
| Grad | Standard | Erweitert | |||
| Gülleversorgungssystem | - | Integriert mit SPS | |||
| Einstechen und Einstechen | - | Integriert mit SPS | |||
| Maschinengehäuse | - | Eingerahmt von Metallplatte | |||
| *HINWEIS: Die optionalen Kits auf der Grundlage der Produktionsanforderungen, Herstellung von Proben können bestätigen, wenn sie notwendig sind. | |||||
