FM-Nanoview 1000 instrumento de laboratorio microscopio de la fuerza atómica

FM-Nanoview TANNING microscopio de alta eficiencia de la fuerza atómica


FM-Nanoview 1000 Flyingman AFM microscopio de la Fuerza Atómica
 

 

 

I. Características
1.  El cabezal de exploración y  la plataforma de muestras  están diseñados juntos,   con un fuerte rendimiento antivibración  
2.   El    dispositivo de detección láser de precisión y alineación de la sonda hacen   que el ajuste del láser sea sencillo y sencillo;
3. Adapte el servomotor para conducir     la muestra acercándose a la punta de forma manual o automática , para lograr    una posición precisa del área de exploración.
4.       Dispositivo de transferencia de muestras de alta precisión y gran alcance que permite  explorar cualquier  área interesante de la muestra ;
5   . Sistema de observación óptica para  la comprobación de la punta y  la colocación de la muestra.
6.  El sistema electrónico  está diseñado como modular y fácil para el mantenimiento y  desarrollo posterior.
7 . Adoptar un resorte para  el aislamiento de vibraciones, simple y  buen rendimiento.  
 
II  Software
1.  Dos tipos de  píxeles de muestreo para elegir: 256×256, 512×512;
2.  Ejecutar  la    función de movimiento y corte del área de exploración, elegir cualquier  área interesante de la muestra;
3.  Escanear la muestra   en ángulo aleatorio  al principio;
4.  Ajustar     el sistema de detección de puntos láser en  tiempo real;
5.  Elegir y establecer  un color diferente de  la imagen escaneada en la paleta.
6  . Soportar  la calibración lineal de promedio y offset  en  tiempo real para  el título de la muestra;
7  . Admitir   la calibración de sensibilidad del escáner y   la calibración automática del controlador electrónico;
8  . Apoyar  el análisis y  el proceso fuera de línea de  la imagen de muestra.
 

 

III   Principales parámetros técnicos

Elemento	Datos técnicos	Elemento	Datos técnicos
Modos de funcionamiento	Modo de contacto,  modo de fricción,  modos extendidos  de roscar, fase, MFM, EFM.	Ángulo de exploración	Aleatorio
Tamaño de la muestra	φ≤90mm,H≤20mm	Movimiento de la muestra	0~20mm
Rango de exploración máx	X/y: 20 um, Z: 2 um	Ancho de pulso del   motor que se aproxima	10±2ms
Resolución	X/y: 0,2 nm, Z: 0,05nm	Sistema óptico	Ampliación: 4x, resolución: 2,5 um
Velocidad de adquisición	0,6Hz~4,34Hz	Puntos de datos	256×256.512×512
Control de escaneo	XY:  D/A DE 18 BITS, Z:  D/A DE 16 BITS	Tipo de comentario	Respuesta digital DSP
Muestreo de datos	Un  CANAL MÚLTIPLE A/D de 14 bits y   DOBLE A/D de 16 bits  simultáneamente
Conexión a PC	USB2,0	Velocidad de muestreo de retroalimentación	64,0KHz
Ventanas	Compatible con Windows98/2000/XP/7/8

FSM construido en 2013. En los últimos 9 años, nos concentramos en fabricar instrumentos para laboratorios y fábricas.
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