Complaint
| Процесса | Промышленности по существу | Промышленности по применимости | |
| Высокий Скорость Шлифовка И утончение | Металл и сплав Керамика Окись Карбид Стекло Пластик Природный камень | Уплотнение | уплотнительное кольцо (жидкое, масляное, газовое) |
| Полупроводник | Подложка (Al2O3, Si, SiC, GE, GE-Si, Gan, GaAs, GaAsAl, GaAsP, InSb, ZnO, AlN) используется в Wafer, LED и т.д. | ||
| Пластик | Твердый пластик | ||
| Оптика (плоская) | Оптический объектив, оптический отражатель, голографическое стекло, проекционный дисплей, стекло | ||
| Гемстоун | нефрит, сапфир, агата и т. д. | ||
| Другие | измерительный блок, микрометр, фрикционный диск, металлические компоненты и другие точные крепежные элементы. | ||
| *ПРИМЕЧАНИЕ: После высокоскоростной шлифовки и прореживания появляется спиральная полоска. Для его рассечки необходимо провести колени или полировку. | |||
| Стандартная спецификация | ||||||
| Модель машины | FD170T | FD220T | FD320T | FD450T | ||
| Диаметр станции | Φ150 мм / 6 дюйма | Φ220 мм / 8 дюйма | Φ320 мм / 12 дюйма | Φ460 мм / 18 дюйма | ||
| Макс. Размер заготовки | Φ150×30 мм | Φ220×50 мм | Φ320×50 мм | Φ460×50 мм | ||
| Толщина технологического процесса | 50μm≤Н | 75μm≤Н | 95μm≤Н | 120μm≤Н | ||
| Решётка | 0.5 μm | 0.5 μm | 0.5 μm | 0.5 μm | ||
| Количество станций | 1 | 1 | 1 | 1 | ||
| Скорость вращения колес | 0-3000 об/мин | 0-3000 об/мин | 0-3000 об/мин | 0-3000 об/мин | ||
| Скорость вращения станции | 0-300 об/мин | 0-300 об/мин | 0-300 об/мин | 0-300 об/мин | ||
| Общий вес | 650 кг | 850 кг | 900 кг | 920 кг | ||
| Общая площадь этажа | 1200×550 мм | 1150×1200 мм | 1150×1200 мм | 1150×1200 мм | ||
| Встроенные дополнительные комплекты | ||||||
| Класс | Стандарт | Продвинутый | ||||
| Система переработки шлама | - | Интеграция с ПЛК | ||||
| Система повязки | - | Интеграция с ПЛК | ||||
| Крепление станции | Механическое крепление | Пневматическое крепление для вакуума | ||||
| Шпиндель | Механический | Пневматическая | ||||
| *ПРИМЕЧАНИЕ: Дополнительные комплекты, основанные на производственных требованиях, при отборе проб можно проверить их необходимость. | ||||||
