Complaint
Здесь представлены все виды оптических линз, которые могут быть настроены в соответствии с вашими чертежами, образцами продукции или подробными требованиями. По любому запросу, пожалуйста, свяжитесь с нами, спасибо!
Размер | Φ1.0~7 мм | Φ8.0~20 мм | Φ20.0~40 мм | Φ40.0~60 мм |
PV | 0,2 мкм | 0,3 мкм | 0,5 мкм | <1 мкм |
Радиальное биение | <=3 мкм | <=5 мкм | <=5 мкм | <=8um |
Допуск толщины центра | ±0,015 мм | ±0,020 мм | ±0,025 мм | ±0,050 мм |
Допуск по диаметру | ±0,015 мм | ±0,015 мм | ±0,015 мм | ±0,030 мм |
Качество поверхности | 40/20 | |||
Шероховатость поверхности | >20 нм | |||
RMS | В соответствии с оптической системой | |||
Материалов | CDGM, NHG, требования клиента | |||
Одно из основных применений цилиндрических линз — в офтальмологии, в частности, для коррекции астигматического зрения. Когда человек представляет астигматическое зрение, оно обычно является результатом деформации роговицы. Астигматическая роговица будет иметь различные фокальные точки на разных осях. Затем можно использовать цилиндрическую линзу для изменения фокусной точки одной из осей, чтобы перекрывать вторую.
2 . Сканирование линий лазера
Это метод, который используется для захвата формы трехмерного объекта в цифровую копию. Это особенно полезно при производстве, создании прототипов, ландшафтном дизайне и архитектуре. Этот метод сканирования измеряет деформацию прямой линии, созданной цилиндрической линзой при ее попадании на неплоскую поверхность. Используя камеры и триангуляцию, можно измерить изменения формы нашей лазерной линии и, следовательно, оценить форму объекта, который мы измеряем. Если вы хотите узнать больше о лазерном сканировании линии, оставьте комментарий.
3. Лазерная сканирующая микроскопия
Обычно они используются в сочетании с акусто-оптическими дефлекторами, где фокальная точка регулируемого объектива (акусто-оптических элементов) может изменять свое положение в поперечном направлении без использования подвижных частей. Цилиндрическая линза корректирует изображение и помогает сфокусировать световое пятно на правильной плоскости для микроскопии лазерного сканирования.
